载体

HF

订货号： 7030661

• 配置前，高温载码体必须经过在高温下的压力测试。
• 在数据载体上执行如下应力测试：
  周期温度应力：20 °C下20分钟 / 220 °C下20分钟
  测试周期数：1500.
  这一测试的成功并不代表可以它适合某些高温，仅仅证明基本的可用性。
• 支架TH-Q51S-HT和TH-Q51T-HT可以使数据载体免受机械负载的影响并使其可以顺利安装在金属上。
• EEPROM，内存大小 128 字节
• 不可直接安装在金属表面

技术数据：